倍率一变就要重新对焦、高低落差工件一半清晰一半糊、反光焊点看不清瑕疵、批量缺陷只能人工筛查…… 微观检测过程中的诸多痛点，如今迎来全套解决方案！
9月9日，CIOE中国光博会盛大启幕。瑞声科技旗下DEPTRA携自研超景深数码显微镜ADM-1000首次公开亮相。产品依托自研高倍自动光学变焦系统、远心光路、AI智能算法、微米级精密运动控制，将高清观测、缺陷智能识别、2D/3D 精准测量集于一体，直击半导体、新能源、3C电子、材料科研等行业的微观质检痛点，重塑微观检测作业流程。
01六大硬核实力，打造微观检测标杆
微观世界的观测与测量，从来不是“看得见”那么简单。传统显微镜普遍存在景深不足、成像畸变失真、操作繁琐等问题，科研人员与质检工程师常常陷入“对焦‑模糊‑再对焦”的低效循环。DEPTRA ADM‑1000实现光学硬件、智能软件、操控系统全链路自主研发，一站式完成高清成像、AI智能检测、大视场无缝拼接、2D/3D一体化精准测量，带来全新的微观观测体验。
✅18X～9000X超高倍率，还原微观本真
不少用户检测时常常遭遇画面边缘畸变、倍率切换需重复对焦、高低落差样品无法完整合焦等难题。ADM‑1000搭载高NA复消色差物镜，搭配全系远心光路，从根源消除透视畸变。无论是材料晶界的细微纹路，还是半导体芯片的微观缺陷，画面边缘与中心细节同等锐利，色彩还原真实。
核心成像单元采用1241万像素CMOS相机，支持4K超高清输出。凭借齐焦设计，18X～9000X全倍率切换过程中被测物可持续保持对焦，省去反复调焦操作。针对高低落差大的三维样品，深度合成算法可自动输出全幅合焦图像，让落差悬殊的工件在单张画面完整呈现，解决景深不足带来的成像困扰。
✅AI赋能，从人工筛查转向智能识别
传统人工目视缺陷筛查，不仅耗时耗力，还容易出现漏检，对操作人员经验门槛要求高。ADM-1000搭载全自研AI智能模块，赋予设备自主识别、测量、检索能力，降低检测门槛，提升检测效率。
- AI缺陷检测：少量标准样本本地训练，即可批量自动识别、统计缺陷；
- AI特征搜索：在密集的PCB元器件上可秒级定位同类特征，捕捉细微差异；
- 智能识别直线及圆形特征并批量测量关联尺寸，节省重复测量操作时间。
✅大景深+实时追焦，移动全程实时清晰
ADM-1000机架支持±90°自由旋转，无需翻转工件即可多角度全景观测，为3D形貌采集提供完整数据。在观测过程中，高速自动对焦系统能够根据目标物的3D形状变化实时调节镜头高度，移动载物台时画面始终保持清晰。配合优异的超大景深表现，系统可在移动中自动对新目标区域进行景深合成，做到实时观测、全景深清晰成像。不管是快速扫描整片PCB板，还是追踪特定焊点，都可以精准锁定目标，成像稳定清晰。
✅0.1μm级精密电动操控，大视野无缝拼接
优秀的检测设备应当简化操作负担。ADM-1000配备高精度电动载物台，XY行程±50mm，电动控制精度高达0.1μm，支持快速2D图像拼接；Z轴步进精度可达到0.2μm，可获得更精细的景深拓展图像。
配套手柄控制器操作手感友好，常用功能一键直达，电动、手动模式可无缝切换，兼顾自动化作业效率，同时保留手动微调的操作手感。像素级无痕拼接算法，可将多幅图像自然融合，消除拼接痕迹，完整还原样品全域形貌，大幅提升大面积样品的检测效率。
✅全域照明+HDR，高反光样品细节无损呈现
光源是显微成像的灵魂。ADM-1000配备同轴/环形光源四分区可调照明系统，可灵活切换光照角度，实现全域多角度照明。针对强反光工件，智能去反光技术可还原芯片引脚、金属焊点的真实细节；搭配HDR高动态成像，融合多档快门画面，同时兼顾高亮反光区域与黑暗暗部，有效提升成像对比度，反光、阴影不再成为观测阻碍。
✅2D&3D全维测量，构建平面到立体数据闭环
ADM-1000不仅是一台优秀的观测设备，更是一套完整的测量分析平台，可满足多场景检测分析需求：
- 2D测量：两点距离、线段、角度、圆径、平行线、面积、多边形等14种基础测量项目，鼠标轻点即可完成，支持自定义标记与色彩。
- 3D测量：13种3D测量工具，内置一键校正，支持3D立体成像，搭配10种轮廓绘制工具，全方位检视物体表面轮廓。
此外，系统还集成了多项专业分析功能：支持跨视野测量，高倍率下直接完成大跨度尺寸检测，无需拼接图像；可快速对选定区域完成目标计数、面积测算；自带清洁度检测模块及粗糙度分析模块，充分覆盖研发验证、产线质检等全流程使用需求。
02全行业适配，赋能高端智能制造升级
依托以上全套软硬件能力，ADM‑1000能够适配多元复杂的微观检测场景。除半导体、电子制造、汽车机械、新能源、3D打印、材料科学等主流工业领域之外，该设备同样可服务于物证鉴定、文物保护、纳米科技、微纳加工等特色科研应用。
面对芯片晶圆、PCB焊点、精密零部件、电池极片、3D打印试样等各类样品，设备可一站式完成形貌观测、尺寸计量、缺陷筛查、表面性能分析，兼顾产线批量质检与实验室科研分析双重场景。为各行各业工艺迭代、失效分析、样品鉴定输出可信量化数据，助力国内高端制造检测能力升级。
03真机实测引爆现场，斩获行业高度认可
本次光博会，AAC Optics展台工业与测量区域设立了DEPTRA ADM-1000真机体验区，现场演示4K超清成像、AI缺陷识别、大面积图像拼接、3D建模测量等全套功能，让到场观众直观感受设备实际表现。
现场研发工程师表示：“ADM-1000实现光学、算法、软件全栈自研，成像精度、智能检测能力对标国际一线产品，同时具备设备交付周期短、定制灵活、售后响应快、综合成本更低的核心优势，切实帮助制造企业、科研实验室实现质检设备自主可控、降本增效。微观世界藏着产品品质的关键，我们希望用自研光学设备，让每一处细微缺陷清晰可见。
